耐候性試驗
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18566398802TSD300W-55溫度沖擊試驗箱(兩箱式)擁有300L的測試容量
兩廂溫度沖擊試驗箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境,用于確定裝備在經(jīng)受周圍大氣溫度的急劇變化時,是否產(chǎn)生物理損壞或性能下降。是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必備的測試設(shè)備,考核和確定檢測儀器、機械、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等在進行高低溫沖擊試驗后的參數(shù)及性能。
兩廂法高低溫沖擊試驗箱,配備二個工作室,分別為高溫區(qū)和低溫區(qū),通過吊籃將測試件移動至相應(yīng)的工作室,進行高低溫沖擊試驗。
GB/T2423.1﹣2001 試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2﹣2001 試驗B:高溫試驗方法
GJB150.3A-2009 高溫試驗
GJB150.4A-2009 低溫試驗
GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗
數(shù)量:最大120組
步數(shù):最大100步/組
總循環(huán)數(shù):最大999個
程序可鏈接(鏈接程序序號可選擇)
RJ-45接口,具有本地和遠程通訊功能
安裝好本公司提供的軟件后,在控制軟件中可以對設(shè)備進行遠程監(jiān)控,可以對設(shè)備進行編程、開機和停機等操作,通過該軟件可以記錄試驗過程中的數(shù)據(jù)和曲線,并可以根據(jù)需要打印該數(shù)據(jù)和曲線。
曲線實時存儲,可顯示當(dāng)前曲線,歷史曲線可查詢顯示,具備曲線時標(biāo)功能,用U盤下載歷史數(shù)據(jù),可在專用軟件還原曲線并且生產(chǎn)Excel報表。
USB接口,配優(yōu)盤(容量不小于4G,不保修)一個,PC機專用軟件光盤一張。
通過PC機專用軟件編制試驗程序并導(dǎo)入控制器中;也可將控制器內(nèi)的程序?qū)隤C機進行分析和管理。
可將存儲在控制器內(nèi)記錄的試驗曲線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到優(yōu)盤上。通過PC機專用軟件直接顯示和打印試驗數(shù)據(jù)/曲線;或?qū)⒂涗洈?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可由Microsoft Office讀取的Access數(shù)據(jù)文件。
故障報警及原因
斷電保護功能
日歷定時功能(自動啟動及自動停止運行)
自診斷功能
內(nèi)容積(升) | 300 |
吊籃有效尺寸(mm) | W600 mm×H700 mm×D700 mm |
設(shè)備外尺寸(mm) | W2400 mm×H2150 mm×D2262 mm |
重量(kg) | 2300 |
測試環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、大氣壓力:86~106KPa 循環(huán)冷卻水溫≤+30℃(不結(jié)冰)、循環(huán)冷卻水供水壓力為0.3 MPa~0.45MPa |
測試方法 | GB/T 5170.2-2008 |
試驗方式 | 兩廂結(jié)構(gòu),氣動吊籃切換 |
預(yù)冷下限溫度 | ﹣75℃ |
預(yù)熱上限溫度 | +200℃ |
升溫時間 | +70℃→+200℃ ≤20min,升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能 (全程平均,按GB5170考核) |
降溫時間 | +20℃→﹣75℃≤80min,降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能 (全程平均,按GB5170考核) |
高溫沖擊范圍 | +70℃~+150℃ |
低溫沖擊范圍 | -10℃~﹣55℃ |
溫度偏差 | ±2.0℃(空載) |
溫度波動度 | ≤±0.5℃(按GB/T 5170.2-1996)(空載) |
溫度恢復(fù)時間 | ≤5min (+150℃:30分鐘 -55℃:30分鐘) |
恢復(fù)條件 | 試樣:標(biāo)準(zhǔn)負載,鋁錠;傳感器位置:出風(fēng)口; 試樣重量:18KG |
樣品籃轉(zhuǎn)換時間 | ≤10秒 |
噪聲 | A聲級≤75dB(A) (大門前1m離地面高度1.2m處,自由空間中) |
電纜孔:引線孔Φ50mm,數(shù)量1個,配2個膠塞,引線孔規(guī)格數(shù)量可在設(shè)計前由雙方協(xié)商確定。
樣品架:2層,承載能力(均布)30kg/層
試樣擱架:4個