TSD500W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）產(chǎn)品詳情 Details

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

兩廂溫度沖擊試驗(yàn)箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境，用于確定裝備在經(jīng)受周圍大氣溫度的急劇變化時(shí)，是否產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降。是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試設(shè)備，考核和確定檢測(cè)儀器、機(jī)械、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等在進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)后的參數(shù)及性能。

兩廂法高低溫沖擊試驗(yàn)箱，配備二個(gè)工作室，分別為高溫區(qū)和低溫區(qū)，通過吊籃將測(cè)試件移動(dòng)至相應(yīng)的工作室，進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)。

TSD500W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1﹣2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2﹣2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)

GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)

程序容量

數(shù)量：最大120組

步數(shù)：最大100步/組

總循環(huán)數(shù)：最大999個(gè)

程序可鏈接(鏈接程序序號(hào)可選擇)

通訊功能

RJ-45接口，具有本地和遠(yuǎn)程通訊功能

安裝好本公司提供的軟件后，在控制軟件中可以對(duì)設(shè)備進(jìn)行遠(yuǎn)程監(jiān)控，可以對(duì)設(shè)備進(jìn)行編程、開機(jī)和停機(jī)等操作，通過該軟件可以記錄試驗(yàn)過程中的數(shù)據(jù)和曲線，并可以根據(jù)需要打印該數(shù)據(jù)和曲線。

曲線記錄功能

曲線實(shí)時(shí)存儲(chǔ)，可顯示當(dāng)前曲線，歷史曲線可查詢顯示，具備曲線時(shí)標(biāo)功能，用U盤下載歷史數(shù)據(jù)，可在專用軟件還原曲線并且生產(chǎn)Excel報(bào)表。

外接數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能

USB接口，配優(yōu)盤(容量不小于4G，不保修)一個(gè)，PC機(jī)專用軟件光盤一張。

通過PC機(jī)專用軟件編制試驗(yàn)程序并導(dǎo)入控制器中;也可將控制器內(nèi)的程序?qū)隤C機(jī)進(jìn)行分析和管理。

可將存儲(chǔ)在控制器內(nèi)記錄的試驗(yàn)曲線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到優(yōu)盤上。通過PC機(jī)專用軟件直接顯示和打印試驗(yàn)數(shù)據(jù)/曲線;或?qū)⒂涗洈?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可由Microsoft Office讀取的Access數(shù)據(jù)文件。

附屬功能

故障報(bào)警及原因

斷電保護(hù)功能

日歷定時(shí)功能(自動(dòng)啟動(dòng)及自動(dòng)停止運(yùn)行)

自診斷功能

TSD500W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù)

TSD500W-55溫度沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)配置

電纜孔：引線孔Φ50mm，數(shù)量1個(gè)，配2個(gè)膠塞，引線孔規(guī)格數(shù)量可在設(shè)計(jì)前由雙方協(xié)商確定。

樣品架：2層，承載能力(均布)30kg/層

試樣擱架：4個(gè)