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老化測試設(shè)備

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什么是按鍵小型氙燈老化試驗(yàn)箱?
發(fā)布時間:2023-02-23T15:02:35

按鍵小型氙燈老化試驗(yàn)箱是一種用于測試按鍵、按鈕等電子元器件耐久性的設(shè)備。該試驗(yàn)箱通過使用氙氣燈管模擬日光和紫外線的輻射,加速元器件老化過程,從而測試其可靠性和壽命。

測試過程

測試操作過程:

準(zhǔn)備:將待測元器件放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并根據(jù)需要調(diào)整溫度、濕度等參數(shù)。

啟動:打開氙氣燈管,開始模擬輻射。同時啟動計(jì)時器,記錄老化時間。

定時更換:根據(jù)需要,每隔一段時間更換元器件位置,保證所有位置都受到相同的輻射強(qiáng)度,從而確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

結(jié)束:根據(jù)測試要求,停止輻射并記錄測試時間。

符合標(biāo)準(zhǔn)

該試驗(yàn)箱符合以下標(biāo)準(zhǔn):

GB/T2423.24-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)Fc》;

GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)Fd》;

GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)Fe》;

GB/T16422.3-1997《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:試驗(yàn)Cb 靜電放電》;

GB/T16422.2-1999《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:試驗(yàn)Ca 高溫、高濕和循環(huán)溫濕度試驗(yàn)》。

以上標(biāo)準(zhǔn)均是中國國家標(biāo)準(zhǔn),可用于測試電子元器件在各種環(huán)境條件下的性能和可靠性。