耐候性試驗(yàn)
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18566398802隨著人們對(duì)電子產(chǎn)品輕、薄、短、小型化和多功能化的需求,電子電路及元器件正在向進(jìn)一步微型化和高度集成化方向發(fā)展。受尺寸效應(yīng)的影響,即使電子材料發(fā)生局部微量腐蝕,也會(huì)導(dǎo)致整個(gè)電子設(shè)備系統(tǒng)癱瘓。隨著全球性環(huán)境污染的加劇、國(guó)際空間站面臨霉菌困擾的窘迫、我國(guó)空間站微生物腐蝕預(yù)研的需要和軍用電子裝備三防要求(防濕熱,防鹽霧,防霉菌)的提出,微量污染環(huán)境下電子材料腐蝕行為與機(jī)理研究成為亟需進(jìn)行的課題。
北京科技大學(xué)鄒士文等研究了四種不同表面處理工藝的印制電路板(PCB)在霉菌環(huán)境中的腐蝕行為與規(guī)律,發(fā)現(xiàn)霉菌會(huì)嚴(yán)重加劇電路板的腐蝕。
Q-Fog CRH鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱可用于材料的耐腐蝕測(cè)試
霉菌能在PCB上大量生長(zhǎng)繁殖,霉菌生長(zhǎng)造成PCB-Cu表面有菌區(qū)域貧氧,與周圍無(wú)菌區(qū)域構(gòu)成氧濃差電池,降低霉菌生長(zhǎng)區(qū)域金屬被氧化的速率,抑制腐蝕過(guò)程,卻使得整個(gè)金屬表面SKP電位上升,導(dǎo)致PCB-Cu腐蝕加速。霉菌在PCB-ENIG表面微孔處發(fā)生附著繁殖,吸濕、產(chǎn)酸等代謝能促進(jìn)微孔腐蝕的發(fā)生和發(fā)展,造成PCB-ENIG嚴(yán)重腐蝕,由于表面腐蝕產(chǎn)物脫落,易造成電子電路失效;同時(shí)隨著霉菌的生長(zhǎng),導(dǎo)致整個(gè)金屬表面SKP電位上升,加速PCB-ENIG的微孔腐蝕。